真理光學(xué)技術(shù)團隊具有超過(guò)二十年粒度表征及應用開(kāi)發(fā)的經(jīng)驗，曾研發(fā)出一臺商用激光粒度分析儀。LT3600系列和LT2200系列是真理光學(xué)基于多年的科研成果并融合多項專(zhuān)利技術(shù)開(kāi)發(fā)的新一代超高速智能激光粒度分析系統，為全球激光粒度分析行業(yè)樹(shù)立了新標桿。LT3600系列和LT2200系列粒度儀被廣泛用于磨料，制藥，化工，電池材料，地質(zhì)，水文等行業(yè)的顆粒粒度表征分析。 針對電池材料行業(yè)用戶(hù)的電池材料粒度粒形檢測需求，真理光學(xué)開(kāi)發(fā)的新一代LT系列激光粒度儀加持了如下技術(shù)研究成果： （1）發(fā)現愛(ài)里斑的反常變化（ACAD）規律及其對粒度測量的影響，解決了ACAD現象對光能數據反演的干擾。 （2）獨創(chuàng )的偏振空間濾波技術(shù) （3）斜置梯形窗口技術(shù)。 （4）統一的散射光能反演算法，免除了用戶(hù)必須選擇反演模式，而不同模式有不同結果的困擾。 （5）分散系統雙電機驅動(dòng)及液位連續監控。 為電池材料粒度粒形測試提供可靠保證和穩定數據支撐。
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